進行新產品導入封裝製程評估、設備操作,並對封裝廠製程良率控管及製程端異常及問題分析
- 做IC晶圓測試,晶片電性功能測是使IC進入封裝前能先行過濾出電性功能不良的晶片以降低IC成品不良率
- 將加工完成之晶圓晶切割後之晶粒以塑膠、陶磁、金屬等材料被覆,以達保護晶粒避免受到外界污染及易於裝配應用,並達到晶片與電子系統間之電性連接、實體支撐及散熱之效果
- IC成品測試,確認成品功能、速度、容忍度、電力消耗等屬性是否正常,確保出貨品質
- 相關技術支援,測試、封裝過程記錄與資料分析
- 產品開發
- 撰寫測試計劃及測試報告書
- 半導體材料與元件良率與穩定度控管
- 高頻電路產品故障分析
- 高頻電路產品管控
- 執行產品可靠度測試與問題分析
- 檢測製程設備及重點參數
- IC設計與製程能力
- IC電路模擬測試
- 日常檢查及異常狀況初步研判
- 執行EMC/EMI安規測試驗證與報告